影響半微量分析天平稱量結(jié)果的因素有：

  1、靜電的影響:會使稱量結(jié)果無法預(yù)料,或重或輕；

  2、使稱盤接地、增加環(huán)境濕度；

  3、空氣浮力的影響:樣品在空氣中其重量受浮力影響,該浮力的大小取決于樣品的體積，大氣壓力,空氣密度，溫度,濕度及海拔高度；

  4、磁力的影響:磁性樣品會嚴(yán)重影響天平的重復(fù)性指標(biāo)，對樣品予以退磁或用厚金屬板加以屏蔽。

  半微量分析天平的使用注意事項：

  1、拆下天平右側(cè)的傳感器保護(hù)螺桿，蓋上適配器盒內(nèi)的防塵蓋檢查防風(fēng)罩是否正常(無防風(fēng)罩例外)將秤盤輕輕放入。

  2、請將電子天平放置于水平、穩(wěn)定無振動的臺面上使用。

  3、避免將電子天平放置于溫度變化過大或空氣流動劇烈的場所，如日光直射或空調(diào)出風(fēng)口。

  4、不得在有腐蝕性的氣體或液體，以及影響儀器正常工作的電場和磁場的地方使用。

  5、調(diào)整秤腳使水平泡處于中心位置。
  幸運(yùn)電子提供的半微量分析天平配備新型高度集成式電磁傳感器，所有型號可自動內(nèi)部校準(zhǔn)，具有高精度和高可重復(fù)性的特點(diǎn)。且天平均配有一個很大的圖形顯示屏，便于用戶操作。